| 測(cè)試項(xiàng)目匯總 |
| 1 |
X射線光電子能譜（XPS） |
42 |
凝膠色譜儀（GPS） |
| 2 |
X射線光電子能譜（AR-XPS） |
43 |
離子色譜儀（IC） |
| 3 |
X射線衍射儀（XRD） |
44 |
氣/質(zhì)聯(lián)用儀（GC/MS） |
| 4 |
X射線熒光光譜儀（XRID） |
45 |
液質(zhì)聯(lián)用（LC-MS） |
| 5 |
（TG-DTA）室溫~800℃ 室溫~1000℃ 室溫~1200℃ |
46 |
等離子體光譜儀ICP-OES |
| 6 |
（TG-DSC）室溫~800℃ 室溫~1000℃ 室溫~1200℃ |
47 |
ICP-OES全掃描 |
| 7 |
Zate電位測(cè)試 |
48 |
組織樣品ICP測(cè)全鐵含量 |
| 8 |
孔徑與比表面積分析 |
49 |
普通酸消解制樣費(fèi) |
| 9 |
X射線光電子能譜（XPS） |
50 |
HF/王水消解制樣費(fèi) |
| 10 |
元素分析儀（EA） |
51 |
EA測(cè)C，H，N，S，O元素 |
| 11 |
AFM形貌粗糙度 |
52 |
DSC/DTA-TG（5℃/min）（10℃/min） |
| 12 |
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（SEM） |
53 |
共聚焦拉曼光譜儀（Raman） |
| 13 |
SEM-EDS（點(diǎn)掃）（線掃）（面掃） |
54 |
紅外氮氧儀 |
| 14 |
環(huán)境掃描電鏡（ESEM） |
55 |
紅外碳硫儀 |
| 15 |
TEM-EDS（點(diǎn)掃）（線掃）（面掃） |
56 |
傅里葉紅外光譜儀（FTIR） |
| 16 |
粉末/液體 透射電鏡（TEM） |
57 |
氫譜 |
| 17 |
生物樣本透射電鏡（TEM） |
58 |
碳譜 |
| 18 |
TEM染色制樣 |
59 |
比熱（800℃以下）（1200°C以下） |
| 19 |
磁性粉末TEM/HRTEM |
60 |
物鏡球差透射（AC-TEM） |
| 20 |
聚光鏡球差透射（AC-STEM） |
61 |
智能重量分析（IGA） |
| 21 |
全自動(dòng)物理吸附儀（介孔BET）（微孔BET） |
62 |
蛋白質(zhì)含量檢測(cè) |
| 22 |
激光粒度分析 |
63 |
氨基酸含量檢測(cè) |
| 23 |
拉曼分析 |
64 |
電子背散射衍射（EBSD） |
| 24 |
鹵素水分測(cè)定儀（固含量測(cè)試分析） |
65 |
PFM壓電力顯微鏡 |
| 25 |
粘度分析 |
66 |
臺(tái)階儀/輪廓儀（三維輪廓） |
| 26 |
透光率/霧度分析 |
67 |
聚焦離子束（FIB） |
| 27 |
涂層附著力 |
68 |
接觸角測(cè)試（水接觸角） |
| 28 |
涂層方塊電阻（四探針測(cè)試） |
69 |
電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī) |
| 29 |
熱輻射率（雙波段發(fā)射率測(cè)試） |
70 |
超導(dǎo)量子干涉磁測(cè)量系統(tǒng) （SQUID） |
| 30 |
松裝密度 振實(shí)密度 |
71 |
高壓吸附儀 |
| 31 |
體積電阻率（粉體）（液體） |
72 |
靜態(tài)熱機(jī)械分析（TMA） |
| 32 |
液體微量水分 |
73 |
熱膨脹分析儀 |
| 33 |
灰分測(cè)試 |
74 |
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA） |
| 34 |
金屬離子含量（原子吸收光度） |
75 |
PL穩(wěn)態(tài)譜（含激發(fā)和發(fā)射） |
| 35 |
固體核磁共振儀（NMR） |
76 |
PL瞬態(tài)譜（熒光壽命） |
| 36 |
總有機(jī)炭分析儀（TOC） |
77 |
PL量子產(chǎn)率 |
| 37 |
總氮分析儀（TM） |
78 |
化學(xué)吸附儀（TPD-MS）（H2-TPR）（NH3-TPD） |
| 38 |
低分辨質(zhì)譜（MS） |
79 |
全自動(dòng)壓汞儀（MIP） |
| 39 |
高分辨質(zhì)譜（HRMS） |
80 |
振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)---慢掃（VSM） 快掃（VSM） |
| 40 |
氣相色譜（GC） |
81 |
橢偏儀 |
| 41 |
液相色譜（LC） |
82 |
高級(jí)旋轉(zhuǎn)流變儀（常溫流變）（高溫流變） |
川公網(wǎng)安備 51010702000618號(hào)
